El estándar de demostración para microscopio de barrido JN-1, está comprendido de dos tocones de alfiler de 1/2" y de una base de 1".
Uno de los tocones/trozos tiene el tamaño de muestras conductoras consistentes en un chip de un circuito integrado, un tornillo de ajuste, una fractura de metal dúctil, una diatomea y una rejilla TEM. La superficie del tocón está revestida con cerca de 20 nm de AuPd.
El segundo tocón tiene muestras no conductoras consistentes de un chip de un circuito integrado, papel, esferas de vidrio, tela y diatomeas. El tocón no esta revestido para ser conductor y es útil para demostrar formación de imágenes SEM a bajo vacío.
También se incluye un adaptador de 1" sobre el cual colocar uno de los tocones de 1/2". El alfiler del tocón está capturado por un tornillo de ajuste con un resorte cargado, de tal manera que el tocón quede seguramente detenido sin el uso de herramientas. En el fondo del adaptador de 1" hay una rosca interna de ajuste de 4 mm la cual puede ser usada en algunos SEM, para asegurar la muestra en la platina. El adaptador de 1" no se tiene que utilizar necesariamente. Se tienen que utilizar pinzas de punta curvada para manipular los tocones. Estas están comúnmente disponibles en los almacenes de suministros para SEM.
